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直接A/D转换器可将模拟信号直接转换为数字信号，这类A/D转换器具有较快的转换速度，其典型电路有并行比较型A/D转换器、逐次比较型A/D转换器。而间接A/D转换器则是先将模拟信号转换成某一中间电量(时间或频率)，然后再将中间电量转换为数字量输出。对于一个理想ADC，其微分非线性为DNL=0LSB，也就是说每个模拟量化台阶等于1LSB(1LSB=VFSR/2，其中VFSR为满量程电压，N是ADC的分辨率)，跳变值之间的间隔为准确的1LSB。

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片选可以理解成选片，很多芯片挂在同一总线上的时候，需要有一个信号来区别总线上的数据和地址由哪个芯片处理，这时就需要一个片选信号CS(chip select)，一般是在划分地址空间时，有逻辑电路产生的。在数字电路设计中，一般开路输入管脚呈现为高电平，因此片选信号绝大多数情况下是一个低电平。积分非线性表示了ADC器件在所有的数值点上对应的模拟值和真实值之间误差的那一点的误差值，也就是输出数值偏离线的距离。

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不同类型的转换器转换速度相差甚远。其中并行比较A/D转换器的转换速度很高，8位二进制输出的单片集成A/D转换器转换时间可达到50ns以内，逐次比较型A/D转换器次之，它们多数转换时间在10-50μs以内。间接A/D转换器的速度很慢，如双积分A/D转换器的转换时间大都在几十毫秒至几百毫秒之间。在实际应用中，应从系统数据总的位数、精度要求、输入模拟信号的范围以及输入信号极性等方面综合考虑A/D转换器的选用。模拟-数字转化部分包括：电压放大和偏置，V/F转换模块，计数转化模块。

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可编程逻辑器件种类繁多，性能各异，主要有以下几种基本类型：可编程只读存储器(PROM)，现场可编程逻辑阵列(FPGA)，编程阵列逻辑(PAL)，通用阵列逻辑(GAL)。通用阵列逻辑GAL(Generic ArrayLogic)是新一代的可编程逻辑器件，是采用***的E2CMOS工艺制造的大规模集成电路，是新产品设计的理想器件。用户可将设计的逻辑电路通过IBM-PC机对GAL芯片编程。编程过程可分为三步：(1)根据设计要求写出与或逻辑表达式的布尔方程;(2)利用编译器，由计算机辅助编程，得到阵列的熔丝图，并验证其正确性;(3)由于GAL的立即电可擦性，把编译器的输出送入编程器。编程器便按已确定的熔丝图将新的内部结构信息存储起来。积分型AD的转换时间是毫秒级属低速AD，逐次比较型AD是微秒级属中速AD，全并行/串并行型AD可达到纳秒级。这种编程方法简单易行。